AT5112是針對(duì)熱敏電阻的雙路測(cè)試儀，內(nèi)置2路電阻測(cè)試電路，可同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC進(jìn)行測(cè)試得出差值并換算成實(shí)際值，忽略PTC的自身溫度敏感特性，達(dá)到精確測(cè)試，測(cè)試誤差小于0.1Ω，準(zhǔn)確度0.1%。

AT510SE是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電阻測(cè)試儀。提供10μΩ～300kΩ的電阻，Z大顯示30,000數(shù)。適中的配置提供Z佳性價(jià)比。

【2010升級(jí)版】AT512 是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的精密電阻測(cè)試儀。它可以量測(cè)0.1μΩ～110MΩ的電阻，Z大顯示200,000數(shù)。2010年全新升級(jí)版，Z大輸出電流3A，穩(wěn)定性更高。 Z高測(cè)試速度可達(dá)150次/秒，基本準(zhǔn)確度高達(dá)0.01%。它的寬范圍測(cè)試可以適應(yīng)各種不同要求的測(cè)試。 【2010升級(jí)版】支持溫度補(bǔ)償。

AT511M是一種操作簡單，經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的電阻測(cè)試儀。可以測(cè)試0.1mΩ～29.99kΩ的電阻，Z大顯示2,999數(shù)。特別適合于需低功耗電阻測(cè)試的場(chǎng)合。以高性能的處理器實(shí)現(xiàn)傻瓜式操作，使您的測(cè)試工作輕松完成。

AT511A是安柏儀器2011年根據(jù)客戶需求重新開發(fā)的一種經(jīng)濟(jì)型高性能電阻測(cè)試儀，全新設(shè)計(jì)的操作面板，更符合客戶的操作習(xí)慣，分選設(shè)置更方便，測(cè)試電流兼容日置3540。替代AT511,可以測(cè)試10μΩ～29.99kΩ的電阻，Z大顯示2,999數(shù)。它的低測(cè)試電流,特別適合于需低功耗電阻測(cè)試的場(chǎng)合。分選功能適用于出廠檢驗(yàn)，產(chǎn)品分選。